偏光顯微鏡觀察．分為反射光及透射光觀察兩部分。
1、透射光觀察
透射光觀察是指對洞穴石灰華薄片，在偏光顯微鏡透射光下進行的觀察。即巖石學巾的巖石薄片鑒定，常在單偏光與正交偏光之間反復進行。透射光觀察分為已石化及末石化兩部分進行。由于佩微攝影的照片數量很多，有的現象十分相似，這里僅選擇少數具特征性的照片進行描述。
（1）已石化標本薄片
1）層狀石灰華
標本92—12—61。采集地：貴州織金洞，劍門關。形象名：鈣華板。
照片號：2125（團版Xm）。鏡下特征：單偏光（—）；視域倍數25M10（物鏡x目鏡）。
照片視域為鈣華板底部（右側白色部分）與上覆沉積物的接觸部位，顯示出三種不同結構。右側為白色結構致密部分，其巾可見沿鈣華板平面延伸方向的棕色紋層。白色致密部分偏左，為棕色結構半致密部分。其巾可見數量不多的7L洞，并見有斜交的紋理，呈現出該部分為許多棕色絲狀物交織而成。緊接其左側約占視域2／3的是結構疏松層，其中交錯存在的棕色絲狀物清晰可見，并留下許多折線幾何形孔洞。整個視域給人以一種絲狀物從白色結構致密層，棕色絲狀體向上強烈“生長”的感覺。
照片號：2126（圖版x。鏡下特征：正交偏光；視域倍數2．5M10（物鏡x目鏡）。
偏光顯微鏡為上一視域的正交偏光。右側白色致密結構層中，呈現出垂直紋層的，具不同消光位的桿狀方解石晶體。反映沉積物石化、重結晶作用較為強烈，已形成垂直并突破紋層的柱狀方解石晶體。半致密結構層中，孔洞已被只“白”干涉色的方解石晶粒所充填。反映出沉積物已經協了一定的石化階段，但重結品作用內不明顯，仍留下許多棕色絲狀物的殘余結
構。疏松結構層中，交錯存在的絲狀物及其形成的折線幾何形孔洞仍然清晰可見。但絲狀
物的絲體外緣，“粘結”了許多具“局級白”干涉色的力解石細粒，部分絲狀物已被細粒方解石所覆蓋，形成了泥品方解石薄膜G反映出棕色絲狀物具食，“粘結”或“捕獲”微細粒狀方解石的功能，當細粒方解石顆粒聚集后，可形成泥晶方解石的薄膜“泥晶套”。
偏光顯微鏡對層狀石灰華的觀察表明：⑦沉積物可分為疏松、半致密及致密三種結構層：⑨疏松結構層，由棕色絲狀物組成，其間構成折線狀幾何形孔洞。致密結構層呈灰白色，可見有平行狀紋層。半致密結構層介于兩者之間；③正交偏光下可見棕色絲狀物上“粘結”或“捕獲”許多方解石細小品粒，密集處己形成方解石薄膜包裹的絲狀體；④正交偏光下，可見具不同消光位的方解石品粒，穿越棕色紋理的現象；⑤具致密結構層的沉積物，其石化、重結晶現象明19高于疏松、偏光顯微鏡半致密結構的沉積物。http://www.cnnoptics.com/
